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JB4060型α、β、γ、X射线检测仪，适用于α，β辐射表面污染检测，同时也适用与γ、X辐射剂量率的监测。仪器采用盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α，β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。
特点
率盖革云母窗探测器，探测效率高
单片机控制，软件功能强
LCD 液晶显示，会话式操作界面
嵌入式操作系统，运行速度更快
128×96分辨率，点阵液晶显示器屏幕亮度、清晰度更高
5000组报警数据存储
便携式设计，外观具有亲和力，材质更轻
可区分β和γ射线
主要技术指标
测量范围：1～99999
0.010μSv/h-1000μSv/h
显示单位：Bq/cm2、CPM、μSv/h、μGy/h
能量阈： 5keV
能量响应：≥60 keV不超过±40%（对于137Cs归一）
灵 敏 度：α表面活度响应>3s-1Bq-1cm2
β表面活度响应>3s-1Bq-1cm2
仪器本底：平均每分钟计数≤70CPM(60秒测量)
相对固有误差：≤20%
重复性： 不超过10%
供电电源： 3节普通 5 号电池，整机电流≤50mA
温度： -20℃～50℃
湿度： 不超过95%RH
重量: 整机约1200g(带探测器)
尺寸: （主机）长9.5cm×宽19cm×高9.8cm；
（探测器）Φ74、长20cm
